Quantifi Photonicsは11月29日、フォトニック集積回路(PIC)、シリコンフォトニクス(SiPho)、co-packaged optics (CPO)、光トランシーバなどの次世代光デバイスの偏光依存性テストが可能な、新しい偏光コントローラPOL-1200シリーズを発表した。

　Quantifi Photonicsは「PIC、SiPho、CPO、および同等のテクノロジーは、今後10年間でAIとHPCの真の可能性を解き放つ新しい光インターコネクトをサポートするために不可欠だ。偏光を厳密に制御し、偏光依存性を検証することは、大量生産の重要な要素であり、これらの技術を拡張するためのボトルネックになる可能性がある」とし、「今回発表したPOL-1200は、この新たな問題点に対処するために設計された超高速、低損失の偏光コントローラだ。偏光状態を手動で設定することや、高速偏光スキャンの実行、そして光信号を完全に脱分極することも可能だ。偏波制御の全範囲を提供し、DUTをテストおよび検証して、必要な仕様を満たしていることを確認する」と説明している。